X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究 |
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引用本文: | 冯彩霞,李国会,樊守忠,潘宴山,范辉.X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究[J].矿物岩石地球化学通报,2007,26(Z1). |
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作者姓名: | 冯彩霞 李国会 樊守忠 潘宴山 范辉 |
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基金项目: | 国家自然科学基金,中国科学院基金 |
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摘 要: | X射线荧光光谱分析方法作为一门较为成熟的成分分析技术,因具有多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,已广泛地应用于冶金、地质、化工、生物、环境和半导体电子工业等领域以及各类分析化学研究实验室1].
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关 键 词: | X射线荧光光谱仪 地质学 应用 |
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