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X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究
引用本文:冯彩霞,李国会,樊守忠,潘宴山,范辉.X射线荧光光谱仪及其在地质学方面的应用研究[J].矿物岩石地球化学通报,2007,26(Z1).
作者姓名:冯彩霞  李国会  樊守忠  潘宴山  范辉
基金项目:国家自然科学基金,中国科学院基金
摘    要:X射线荧光光谱分析方法作为一门较为成熟的成分分析技术,因具有多元素同时测定、含量范围宽、精密度高、分析速度快等特点,已广泛地应用于冶金、地质、化工、生物、环境和半导体电子工业等领域以及各类分析化学研究实验室1].

关 键 词:X射线荧光光谱仪  地质学  应用
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