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| XGJ—1显微镜光度计 | |
| 作者姓名： | 刘崇保 |
| 作者单位： | 地质矿产部海洋地质综合研究大队 |
| 摘 要： | XGJ—1显微镜光度计为定量测试物体显微微区反射率的精密仪器(照片):其主要技术指标达到了国际同类仪器产品水平。1987年通过部级鉴定,填补了该项目的国内空白。由于其结构简洁独特,且某些部件的设计及性能优于国外同类产品,现已获得国家专利。专利证书号:16525,专利号:87214585·9。 |
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