| 恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响 |
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| 引用本文： | 孙庆强,黄增光,朴红光,罗志全.恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响[J].天文学进展,2006,24(4):380-386. |
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| 作者姓名： | 孙庆强 黄增光 朴红光 罗志全 |
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| 作者单位： | 1. 淮海工学院数理科学系连云港222005
2. 西华师范大学物理与电子信息学院南充637002 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目(10347008) |
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| 摘 要： | 针对低能反应和共振跃迁,分析了在恒星内部电荷屏蔽对β衰变率的影响．对共振跃迁的分析是基于核的壳层模型．作为例子,详细计算了电荷屏蔽对56Cr的β衰变的影响．结果表明:在较低温度和高密度下,电荷屏蔽使β衰变率有明显的增加。这对恒星晚期演化和超新星爆发研究可能会有重要的影响。
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| 关 键 词： | 天体物理学 β衰变率 电荷屏蔽 核合成 恒星演化 |
| 文章编号： | 1000-8349（2006）04-0380-07 |
| 收稿时间： | 11 14 2005 12:00AM |
| 修稿时间： | 2005-11-142006-05-16 |
The Influence of Electron Screening on β-Decay Rate in Stellar Interior |
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| SUN Qing-qiang,HUANG Zeng-guang,PIAO Hong-guang,LUO Zhi-quan.The Influence of Electron Screening on β-Decay Rate in Stellar Interior[J].Progress In Astronomy,2006,24(4):380-386. |
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| Authors: | SUN Qing-qiang HUANG Zeng-guang PIAO Hong-guang LUO Zhi-quan |
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| Institution: | 1. Department of Maths and Physics, Huaihai Institute of Technology, Lianyungang 222005, China; 2. Institute of Physics and Electronic Information, China West Normal University, Nanchong 637002, China |
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| Abstract: | |
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