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相似文献
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1.
安庆骧 《岩矿测试》1984,(2):162-165
X—射线荧光光谱中,直接压饼或四硼酸锂熔饼法,具有简便、快速的优点,但测定~10ppm以下含量的稀土元素是相当困难的。 用离子交换纸制样,X—射线荧光光谱测定稀土元素及钪,可降低检测限至0.xppm,甚至更低。 与中子活化法,同位素稀释质谱法相比,本法价廉、方便、快速。与国内同类方法相比,本法取样少,分析周期短,易掌握。  相似文献   

2.
一、引言 X射线荧光光谱法测定稀土元素分量,是一个行之有效的方法。为了降低检出限,提高分析准确度和工效,近年来国内外不断有人研究。由于电子计算机技术的广泛应用,对基体效应,谱线干扰以及背景扣除等繁琐的计算都可由计算机完成,使稀土元素的X射线荧光光谱分析更为简便快速。  相似文献   

3.
用X射线荧光光谱测定钨砂中WO3和铬铁矿中Cr2O3,通过高倍稀释熔融玻璃片制样法,采用高纯WO3或Cr2O3作单一标准样测量X射线荧光强度计数,然后同未知样品测量所得X射线荧光强度计数相比,即可计算出WO3和Cr2O3的测量值.方法用于钨砂矿和铬铁矿中WO3和Cr2O3的测定,结果与标准值相符.  相似文献   

4.
建立了X射线荧光光谱(XRFS)分析中修正比例常数法的理论和分析方法,主要用来测定8~24K黄金首饰样品中的主、次元素含量。  相似文献   

5.
本文叙述了用沉淀抽滤法制备薄试样,X射线荧光光谱法测定混合稀土氧化物原料组分的分析方法。本法定量下限为0.01%—0.17%,方法精度为0.85%—14.9%。对几种类型的原料分析结果表明,本法与ICP-AES法结果基本相符。方法简便快速,可用于混合稀土氧化物原料的成分分析。  相似文献   

6.
XRF法快速测定铁钛精矿中的Fe、Ti品位   总被引:2,自引:0,他引:2  
介绍了XRF法(X射线荧光)在快速测定铁钛精矿样中Fe、Ti品位中的应用,用IED2000P型快速X荧光分析仪,分析目标元素特征X射线计数率与含量的关系,主要研究了基体效应对测量结果的影响。通过比较,选用特散比与经验系数法相结合做三元回归计算的数理模型,可较好地校正基体效应,其分析结果相对误差在0.2%以内,达到了实际生产的要求。  相似文献   

7.
煤中稀土元素(REE)可以提供丰富的沉积环境与物源信息,同时也是潜在的稀土元素矿产资源。运用电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、场发射扫描电镜(SEM)、X射线荧光光谱方法(XRF)和X射线衍射方法(XRD),对豫西裴沟矿二_1煤层中稀土元素含量、分布与赋存特征进行了研究。结果表明,该煤层(50)REE含量范围为22.15~278.45μg/g,平均为90.68μg/g;稀土元素的赋存与无机组分相关,与黏土矿物特别是高岭石关系最为密切;稀土元素在不同分层样品中的含量差异显著,成煤后剧烈的构造运动和煤体变形对稀土元素的含量与分布没有明显影响;部分煤分层中稀土元素的含量已经达到工业开采品位,具有潜在的开发利用前景。  相似文献   

8.
陈法荣 《岩矿测试》1989,8(2):145-146
内标法在溶液、熔珠及粉末样品分析中已得到广泛的应用,尤其对多元混合物中单一元素的测定更为方便,已越来越多地被X—射线荧光分析工作者使用。对于主元素是Cu、Fe的铜精矿混合物,用X—射线荧光光谱直接测定粉末压片或熔珠,其结果与化学值比较,偏差甚大。当选择CoKa线作内标线,分析铜精矿,不但能使Fe的分析准确度大大提高,而且铜的分析也能得到满意的结果。 本试验用强度比R_(C_u),R_(F_e)(I_(C_uK_α)/I_(C_oK_α);I_(F_eK_β)/I_(C_oK_α))及强度值I_(C_uK_α)、I_(F_eK_β)及浓度建立  相似文献   

9.
X射线荧光光谱是近代科学技术发展中建立起来的一门新的测试技术。从六十年代起,X射线荧光光谱得到了迅速发展,加上电算技术的应用,更加显示出了X射线荧光光谱的优越性,已经部分代替了一般的化学分析,解决了若干常量和微量元素的分析问题。现在,这种测试方法已被广泛运用到地质、冶金、煤炭、国防等科研和生产的许多部门。下面就X射线荧光光谱在岩矿测试分析中的几个问题简述于后,供同志们参考。  相似文献   

10.
在野外地质调查的基础上,通过显微薄片观察、电子探针分析、X射线衍射分析、红外光谱分析、X射线荧光光谱分析、微量元素分析、稀土元素分析等现代测试方法对河北小寺沟蛇纹石玉的矿物成分、化学成分进行了研究。结果表明,小寺沟蛇纹石玉为富镁碳酸盐岩蚀变形成的蛇纹岩,其主要矿物成分为利蛇纹石,次要矿物成分有方解石、白云石、透辉石、金云母、磁铁矿、黄铁矿等。蛇纹石玉的稀土元素来源于围岩大理岩,其稀土元素球粒陨石标准化配分图与其围岩大理岩的稀土配分图非常相似,为陡右倾型,具有稀土元素总量较低、富集轻稀土、具δEu负异常的特点。  相似文献   

11.
X射线荧光光谱测定荧光粉中硅铁锌钴   总被引:1,自引:0,他引:1  
徐海  李宝军 《岩矿测试》2004,23(4):317-318
采用溶液法配制标准,粉末直接制备样饼,用SRS300型X射线荧光光谱仪测定彩色荧光粉中的SiO2、Fe2O3、Co、Zn组分含量,取得较满意的结果,与已知含量样品比较,所测组分的结果基本相符。精密度检验SiO2、Fe2O3、Co、Zn的RSD均<3%(n=10)。  相似文献   

12.
滤纸制样X射线荧光光谱法测定矿石中的多元素   总被引:3,自引:1,他引:2  
李田义  柯玲 《岩矿测试》2010,29(1):77-79
建立了滤纸制样,以钴作内标,X射线荧光光谱测定矿石中铁、铜、铅、锌的方法。将淀粉压制成环,作为滤纸的底托,取一定量的分析溶液滴加到淀粉底托的滤纸上,将底托和滤纸放入烘箱,在50℃低温烘干,将淀粉底托和滤纸压制成形,待X射线荧光光谱仪测量。铁、铜、铅、锌的相对标准偏差(RSD,n=11)均小于5%。用国家一级标准物质验证,测量值与标准值吻合。方法操作简单、方便、快速。  相似文献   

13.
《岩矿测试》2008,27(2):126
为促进我国X射线光谱分析学术交流,展示国内在该领域研究和应用的最新进展,推动现代分析测试技术的发展,决定于2008年10月20—25日在海南三亚召开第七届全国X射线光谱学术报告会,会期5天。会议由中国地质学会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办,国家地质实验测试中心承办。会议期间,特邀请国内外著名X射线荧光分析专家等作专题报告。热忱欢迎广大从事X射线光谱分析及相关领域工作的人员踊跃投稿和积极参加会议。征文主题:X射线光谱分析新理论、新技术、新方法、新仪器以及新应用。包括:(1)同步辐射X射线光谱分析;(2)聚束毛细管微束X射线光谱分析技术;(3)新型能量探测器技术的发展与应用;(4)X射线光谱分  相似文献   

14.
目前,国内外广泛使用X射线荧光光谱法来测定火成岩、沉积岩等地质样品的主微量元素.用熔融制片,使用X射线荧光光谱法分析地质样品具有快速、简便、成本低的优点,同时合理的测量方法还能得到准确的分析结果.  相似文献   

15.
X射线荧光光谱分析中用比例常数法测定单个稀土元素,计算是很麻烦的,为了提高分析速度,没有带计算机的仪器必须配用计算机来解决这一矛盾。我们曾编制过“用通用计算机计算X射线荧光光谱分析单个稀土(钍)元素的程序,也编过用美国HP—33E型电子计算器来计算稀土分量的程序,但由于前者使用不太方便,后者计算器容量小,计算比较繁琐,因此现在改用日本PC—1500袖珍计算机来计算。它的使用在某些场合可与  相似文献   

16.
随着现代地质学的发展,稀土元素作为一种理想的地质地球化学指示剂,日益受到重视,对稀土元素图谱的应用和稀土总量,轻、重稀土含量及相互比值,铕/铕比值等各种稀土模式的研究更趋于普遍和深入,这就给十五个稀土分量的准确测试提出了很高的要求。 多年来,分析工作者采用共沉淀,离子交换,溶剂萃取,柱上色谱等各种化学富集手段,以中子活化,电感耦合等离子体光谱,X射线荧光光谱等各种测定方法,  相似文献   

17.
X射线荧光光谱测定钛合金样品中多元素   总被引:3,自引:1,他引:3  
以化学法标定的钛合金作为标准样品,用理论α系数及干扰曲线法进行基体效应和谱线重叠干扰的校正,开发了用X射线荧光光谱测定钛合金样品中除Ti外的常量和微量元素的方法。用该方法测定结果与化学值相符。10次制样测量,各元素的RSD≤1.25%。  相似文献   

18.
能量色散X射线荧光光谱分析大气颗粒中多种元素   总被引:6,自引:1,他引:6  
何文权  叶伯明 《岩矿测试》2002,21(4):301-303
采用基本参数法,利用较少的几个标样,建立能量色散X射线荧光光谱对大气颗粒物中多种元素的定量分析方法,在不破坏样品的情况下,可测定探测下限为xng/cm^2的大气颗粒物的无机元素,测量的RSD(n=10)为0.5%-18.1%,测定空气滤膜标准的结果与标准值符合较好。  相似文献   

19.
采用波长色散X射线荧光光谱(WDXRF)、电感耦合等离子体光谱(ICPAES)、电感耦合等离子体质谱(ICPMS)、原子荧光光谱(AF)和化学等多种现代化分析技术,研究测定了我国“海洋四号”船1987年采自约翰斯顿岛附近海山上的富钴锰结壳样品化学组成;获得了主、次和痕量(包括全部稀土元素REE)共52个组分的含量,并以地壳元素丰度的新数据计算了各元素的富集因数ef(enrichmentfactor)。与大洋多金属结核相比,该结壳样的主要地球化学特征是:Co和Pt的质量分数较高(分别达1.2%和0.37×1  相似文献   

20.
玻璃熔片制样X射线荧光光谱法测定矾土中主次量组分   总被引:1,自引:1,他引:0  
薛秋红  李静  丁玉龙  马青 《岩矿测试》2010,29(2):182-184
建立了玻璃熔片-X射线荧光光谱测定进出口矾土中主、次量组分的分析方法,用可变α系数校正元素基体效应,同时进行谱线重叠校正。利用高纯化学试剂配制合成标准参考物质,球磨机混匀,熔融玻璃片法制备系列校准样片,用X射线荧光光谱法对样品中的二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷、二氧化钛进行测定。方法回收率为98.1%~111.0%,经国家铝矾土标准物质GBW 07178、GBW 07179验证,结果与标准值基本一致。建立的方法解决了测试过程中标准样品种类和数量不足的难题。  相似文献   

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