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建立了Ｘ射线荧光光谱（ＸＲＦＳ）分析中修正比例常数法的理论和分析方法，主要用来测定８￣２４Ｋ黄金首饰样品中的主、次元素含量。 相似文献
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本文介绍了X射线荧光光谱领域内谱图解析的几种主要方法。在阐述曲线拟合解谱基本原理的基础上,对其中特殊的基于泊松分尔(Poisson Distribution)的解谱方法的原理和特点进行了较详尽的描述。重点讨论了网格法最优化方法和统计试验最优化方法。这二种求全局极值的最优化方法。 相似文献
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用X射线荧光光谱法测定试样的主要成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低、微量元素是很困难的.分析试样中的低、微量元素,多数作者是采用散射内标法或加人内标法来校正基体效应.用散射内标法测定试样中的低、微量元素时,背景强度的变化往往影响分析结果的精确度,特别是分析元素靠近检出限时,分析元素能否检出以及测定结果的精确度如何,主要取决于背景强度的大小及背景测定的精确度. 相似文献
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稀土元素是成岩过程的灵敏指示剂.研究岩石中稀土元素的地球化学特征,不仅有助于岩类的划分,而且可借此探讨岩石、土壤和矿床的成因.因此,岩石土壤中稀土元素的分析有非常重要的意义. 相似文献
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X射线荧光光谱分析中用比例常数法测定单个稀土元素,计算是很麻烦的,为了提高分析速度,没有带计算机的仪器必须配用计算机来解决这一矛盾。我们曾编制过“用通用计算机计算X射线荧光光谱分析单个稀土(钍)元素的程序,也编过用美国HP—33E型电子计算器来计算稀土分量的程序,但由于前者使用不太方便,后者计算器容量小,计算比较繁琐,因此现在改用日本PC—1500袖珍计算机来计算。它的使用在某些场合可与 相似文献
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X射线荧光光谱分析中簿样法的进展 总被引：2，自引：0，他引：2
薄样法的特点是基体效应可以忽略不计,检出限很低,试样用量少,手续简便,因而引起了X射线荧光光谱分析者的兴趣.这种方法开始主要用于水、空气、医药中微量元素的分析,后来日益扩展用于地质、冶金、机械等样品的分析.本文主要对薄样法的原理和应用,制薄样的新方法,薄样法在我国的进展,今后的展望等问题加以比较系统的论述. 相似文献
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一、引言 X射线荧光光谱法测定稀土元素分量,是一个行之有效的方法。为了降低检出限,提高分析准确度和工效,近年来国内外不断有人研究。由于电子计算机技术的广泛应用,对基体效应,谱线干扰以及背景扣除等繁琐的计算都可由计算机完成,使稀土元素的X射线荧光光谱分析更为简便快速。 相似文献
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建立了X射线荧光光谱（XRFS）分析中修正比例常数法的理论和分析方法，主要用来测定8～24K黄金首饰样品中的主、次元素含量。 相似文献
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