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《岩矿测试》2010,(4):358
为促进我国X射线荧光光谱(XRF)分析学术交流,展示国内在该领域研究和应用的最新进展,推动现代分析测试技术的发展,定于2011年第4季度召开“第九届全国X射线荧光光谱学术报告会”(地点待定)。会议由中国地质学会岩矿测试技术专业委员会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办,国家地质实验测试中心承办。会议已邀请国际知名专家奥地利维也纳大学ChristinaStreli教授,葡萄牙里斯本大学M.L.Carvaiho教授,美国Los Alamos国家实验室G.J.Havrilla博士、日本东京大学中井泉教授等国内外著名XRF分析专家等作专题报告。热忱欢迎广大从事XRF分析及相关领域工作的人员踊跃投稿和积极 相似文献
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《岩矿测试》2008,27(2):126
为促进我国X射线光谱分析学术交流,展示国内在该领域研究和应用的最新进展,推动现代分析测试技术的发展,决定于2008年10月20—25日在海南三亚召开第七届全国X射线光谱学术报告会,会期5天。会议由中国地质学会、中国硅酸盐学会和中国光谱学会主办,国家地质实验测试中心承办。会议期间,特邀请国内外著名X射线荧光分析专家等作专题报告。热忱欢迎广大从事X射线光谱分析及相关领域工作的人员踊跃投稿和积极参加会议。征文主题:X射线光谱分析新理论、新技术、新方法、新仪器以及新应用。包括:(1)同步辐射X射线光谱分析;(2)聚束毛细管微束X射线光谱分析技术;(3)新型能量探测器技术的发展与应用;(4)X射线光谱分 相似文献
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利用常规宝石学测试、X射线荧光光谱仪(XRF)、激光诱导离解光谱仪(LIBS)、电子探针(EPMA)对近来在珠宝市场上的铅玻璃充填碧玺样品进行测试与分析,旨在探讨其鉴定特征。结果表明,该铅玻璃充填样品的充填特征不明显,与传统的有机物充填处理方法不同;X射线荧光光谱和激光诱导离解光谱的测试结果显示,该铅玻璃充填碧玺样品具有明显的Pb峰。铅玻璃充填碧玺样品中充填物的电子探针二次电子像及背散射电子像特征,可作为碧玺样品是否经过了铅玻璃充填的诊断性依据,其充填物的化学成分主要为Si和Pb,呈不规则斑块状分布于裂隙中。 相似文献
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X射线荧光光谱分析技术在过程分析中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
X射线荧光光谱(XRF)分析作为过程分析化学中一门富有成效的分析技术,在现场分析、流程控制中发挥了积极的作用。文章评述了XRF分析在冶金、地质、采矿、选矿等方面的应用概况以及在国内此领域的发展。 相似文献
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现场X射线荧光分析技术 总被引:5,自引:5,他引:0
本文从携带式X射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论述了现场X射线荧光分析技术的进展.从X射线激发源、X射线探测器和电子线路单元等角度,将携带式X射线荧光仪划分为四代,即以放射性同位源为激发源、以NaI(Tl)闪烁计数器为X射线探测器为技术特征的第一代仪器;以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器;以放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器;以低功率微型X射线发生器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化X射线能谱采集器为技术特征的第四代仪器.在现场分析技术方法方面,论述了X射线仪器谱解析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技术进展.介绍了现场X射线荧光分析技术在地质矿产普查、环境污染调查、文物现场鉴定和合金分析等领域的应用进展.指出了目前国产携带式X射线荧光仪处于第三代和第四代仪器水平之间,低功率微型X射线发生器和电制冷半导体探测器还依赖于进口,全数字X射线能谱采集器还有待商品化;现场多元素分析的准确度和方法检出限都有待进一步改善;便携式仪器的应用领域有待拓宽. 相似文献
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单个流体包裹体成分无损分析进展 总被引:8,自引:0,他引:8
原位无损分析是流体包裹体成分研究的前沿课题,简要总结了单个流体包裹体成分分析方法,评述了原位无损分析方法中微束质子诱发X射线法、同步辐射X射线荧光光谱、显微拉曼光谱、显微红外光谱和红外显微镜分析流体包裹体成分的原理、应用范围、存在问题和研究进展。选择研究流体包裹体成分的方法时,需要考虑分析方法的特点、所测组分及其含量的估计范围、所测流体包裹体的大小、距薄片表面的深度、基体矿物的性质和仪器性能。 相似文献
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单个流体包裹体成分无损分析进展 总被引:1,自引:0,他引:1
原位无损分析是流体包裹体成分研究的前沿课题,简要总结了单个流体包裹体成分分析方法,评述了原位无损分析方法中微束质子诱发X射线法、同步辐射X射线荧光光谱、显微拉曼光谱、显微红外光谱和红外显微镜分析流体包裹体成分的原理、应用范围、存在问题和研究进展.选择研究流体包裹体成分的方法时,需要考虑分析方法的特点、所测组分及其含量的估计范围、所测流体包裹体的大小、距薄片表面的深度、基体矿物的性质和仪器性能. 相似文献