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相似文献
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1.
玻璃熔片制样X射线荧光光谱法测定矾土中主次量组分   总被引:1,自引:1,他引:0  
薛秋红  李静  丁玉龙  马青 《岩矿测试》2010,29(2):182-184
建立了玻璃熔片-X射线荧光光谱测定进出口矾土中主、次量组分的分析方法,用可变α系数校正元素基体效应,同时进行谱线重叠校正。利用高纯化学试剂配制合成标准参考物质,球磨机混匀,熔融玻璃片法制备系列校准样片,用X射线荧光光谱法对样品中的二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷、二氧化钛进行测定。方法回收率为98.1%~111.0%,经国家铝矾土标准物质GBW 07178、GBW 07179验证,结果与标准值基本一致。建立的方法解决了测试过程中标准样品种类和数量不足的难题。  相似文献   

2.
杜淑兰 《吉林地质》2010,29(4):106-107,119
使用粉末压片法制样,X射线荧光光谱法测定地质样品中氯,探讨了样片背衬、样片接受X光照射时间对测量结果的影响。Cl的精密度(RSD,n=12)小于10%。Cl的方法检出限为12μg/g,采用国家一级标准物质分析验证方法,其结果与标准值相符。  相似文献   

3.
X射线荧光光谱法(XRF)是地球化学标准物质均匀性检验的重要方法之一,但目前应用XRF法对标准物质进行均匀性检验还存在争议。由于均匀性检验要求称样量为最小取样量,而采用常规粉末压片或熔融制样进行XRF均匀性检验时称样量一般均大于最小取样量,得到的结果在理论上不足以支撑样品在最小取样量条件下是否均匀。本研究称取0.1 g样品,以四硼酸锂、偏硼酸锂和氟化锂(质量比为45∶10∶5)为混合熔剂,碘化氨为脱模剂,熔融制备样片;采用经验系数法建立了SiO_2、Al_2O_3、TFe_2O_3、MgO、CaO、Na_2O、K_2O、Ti、P和Mn共10个测量组分的标准曲线,各组分校正曲线的相关系数在0.997 3~1.000 0之间。对制样条件的实验优化结果表明,样品与熔剂比为1∶4,以2滴0.2 g/mL碘化氨为脱模剂,在1 050℃熔融10 min,熔融制得的样片成型效果最好。对方法参数进行了研究,各组分相对标准偏差值在0.2%~5.3%之间,相对误差小于6.2%,方法精密度和方法准确度均较高。与常规称样量0.65 g熔片结果相比,两种方法实验结果一致。本研究为X射线荧光光谱法在地球化学标准物质均匀性检验中的应用提供了依据。  相似文献   

4.
能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼铅铁铜   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
田文辉  王中岐  张敏 《岩矿测试》2008,27(3):235-236
建立了能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼、铅、铁、铜的方法,讨论了粒度效应、矿物效应的影响因素,确定了采取粉末样品,用系列标准样品建立工作曲线,通过元素间相互校正消除基体效应,用内控标准样品考察了方法的精密度(RSD,n=11)为0.44%~15.4%。实际样品的测定结果和化学法相符,可满足日常分析工作需要。  相似文献   

5.
应用X射线荧光光谱法(XRF)分析生物样品,采用传统低压粉末制样方法(压强220~440 MPa)难以将样品压制成符合测定需要的样片,样片表面粗糙,粉末容易脱落,污染XRF仪器样品室,影响仪器的长期稳定性。本文采用高压粉末制样方法在1760 MPa下压制则完全克服了低压制样的弊端,制备的样片表面光滑、致密,大幅改善了制样重现性,5次制样重现性为0.1%~2.6%,且降低了仪器的维护成本。在此基础上,建立了波长色散X射线荧光光谱法直接测定生物样品中23种主次量元素(Al、Ca、Cl、K、Mg、Na、P、S、Si、Ba、Br、Co、Cr、Cu、Fe、Mn、Ni、Pb、Rb、Sr、Ti、V、Zn)的分析方法,采用经验系数法、散射线内标法和峰背景作内标校正基体效应,大部分元素的方法精密度提高至 0.4%~11.3%,检出限为0.08~140.96 μg/g。经国家一级生物标准物质验证,表明方法准确可靠,能满足日常分析要求。  相似文献   

6.
宋江涛  赵庆令 《岩矿测试》2011,30(4):494-496
选用人工合成标准样品校正溴的标准曲线,借助溴含量已知的土壤样品为载体吸附固化卤水,采用粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定卤水中的溴含量。在国家一级土壤标准物质中添加不同含量的溴,建立标准化曲线,通过优化筛选仪器工作参数条件,改善了光谱干扰及基体干扰。方法的相对标准偏差(RSD,n=11)小于1.20%,测定结果与化学法测定值吻合,方法操作便捷,能够满足卤水样品中溴的快速定量分析要求。  相似文献   

7.
采用玻璃熔片法制样,建立了重晶石中多元素X射线荧光光谱分析方法.准确称取待测样品0.5000 g,X射线荧光专用熔剂5.000 g;二者混合后,通过高频熔样机在1150℃进行熔片处理8 min;将最终得到的样片放入干燥器中冷却至室温,然后准确称取玻璃片质量;上机测试,所得到的数据为该元素在玻璃片中的含量;通过换算最终得到实际样品中的该元素含量.使用理论α系数法和经验系数法相结合来回归校正共存元素间的吸收增强效应.本方法对于重晶石中各元素的测试相对标准偏差处于0.2%~4.7%之间,方法检出限在3.3×10-6~170.6×10-6之间.测试数据通过与国家标准物质比对,结果合理.  相似文献   

8.
选取土壤、水系沉积物、岩石、超基性岩、黏土等标准物质,应用混合溶剂与样品质量比为14:1的高稀释比方法熔融制备测试样品,拟合校准曲线,建立X射线荧光光谱(XRF)同时测定硅酸盐岩石样品中18种组分(SiO2、Al2O3、TFe2O3、MgO、CaO、K2O、Na2O、TiO2、BaO、MnO、P2O5、Cr2O3、V2O5、Rb、Sr、Zr、Cu、Ni)的快速分析方法.应用帕纳科Eagon2全自动高频电感熔样机,称取7.0000 g(45Li2B4O7+10LiBO2+5LiF)混合溶剂与0.5000 g样品混合均匀,分别加入氧化剂饱和硝酸铵溶液2滴,脱模剂饱和溴化锂溶液4滴,于700℃先预氧化4 min,再1 120℃熔融9 min制备样片,自然冷却至室温.此熔样方法能保证样品中待测组分熔化完全,并制得表面光滑平整的样片.用国家标准物质验证,测试结果的准确度和精密度均符合《地质矿产实验室测试质量管理规范》(DZ/T 0130-2006)要求.  相似文献   

9.
用标准样品建立工作曲线,采用X射线荧光法测定低品位精钼矿中硅含量的方法及相关条件,并对测量结果精度进行分析。测定结果与国家标准方法的测定值相符,可满足日常分析工作需要。本方法具有样品前期处理简便、干扰因素小,且快速、准确等特点。  相似文献   

10.
熔片制样-X射线荧光光谱法测定煤灰样品中主次量组分   总被引:7,自引:3,他引:4  
采用混合熔剂熔融制备样片,用AxiosX射线荧光光谱仪测定煤灰样品中二氧化硅、氧化铝、氧化铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、二氧化锰、五氧化二磷和三氧化硫等11种组分。重点研究了熔样比、熔样温度和标准样品的制备,解决了分析硫的难题。用基本参数法校正基体效应,分析方法的精密度(RSD,n=10)各组分均小于3%。用煤灰国家一级标准物质验证,结果与标准值相符。  相似文献   

11.
汞型活性碳纸富集—XRF法测定地质试样中痕量碘   总被引:2,自引:0,他引:2  
刘德慧 《岩矿测试》1990,9(3):175-178
本文用特制的汞型活性碳纸富集地质样品中痕量碘并用X-射线荧光光谱进行测定。方法操作简便,样品测定限为0.25ppm,测定含I~-量25μg薄试样片(n=10),其相对标准偏差为3%。经地质标准样品验证,结果与推荐值符合。  相似文献   

12.
采用粉末压片制样,波长色散X射线荧光光谱法测定西藏某斑岩型钼铜矿中7个主次量元素Mo、Cu、Pb、Zn、As、Ni、S。选择钼矿石、铜矿石国家标准物质及自配标准物质建立工作曲线,使用康普顿散射线作内标,同时采用经验系数法校正基体效应及粒度效应。方法经国家标准物质、自配标准参考物质验证,测定值与标准值吻合,方法分析精密度(RSD,n=12)小于2.18%,与化学法相比,样品不需进行化学前处理,操作简单、快速、准确度高、精密度好,能满足钼铜矿的实际分析需要。利用国家标准物质配制合成了7个校准标准样品,有效地解决了方法建立过程中标准样品种类和数量不足的问题。  相似文献   

13.
多目标生态地球化学土壤样品高精度测试与质量监控   总被引:4,自引:0,他引:4  
杨锦发 《岩矿测试》2007,26(1):36-39
分析了多目标生态地球化学土壤样品分析误差的主要来源;探讨了高精度测试分析方法的优化与选择,X射线荧光光谱法标准物质回归曲线对标准物质的含量与数量的要求;以实例说明了质量监控粗大误差对,检验的影响;提出了测量极大值和极小值的处理、内检样的合理插置、测试质量警告限的设置、组分总量的验证和异常抽查等一些实质性、操作性极强、具有实效的必要方法。  相似文献   

14.
X射线荧光光谱法(XRF)是测定土壤和沉积物中锰的重要方法,具有制样简单、非破坏性测定、检测速度快等优点。目前用于建立工作曲线的土壤和沉积物标准物质的锰含量最高为2490mg/kg,采用XRF法测定受污染土壤和沉积物中的锰含量时易超出工作曲线测定范围。本文将锰标准溶液定量加入到土壤标准物质中,制备锰含量更高的校准样品,工作曲线的测定上限范围由2490mg/kg提高至3780mg/kg。该方法测定不同含量标准物质中锰含量的结果均在认定值范围内,实际样品的加标回收率为97.8%~108.3%,高含量锰的实际样品测定值与电感耦合等离子体发射光谱法测定值的相对偏差小于5.7%,相对标准偏差(RSD)小于0.4%(n=7)。实验结果表明该法测定锰含量高的土壤和沉积物的准确度和精密度良好。  相似文献   

15.
熔融制样X射线荧光光谱法测定岩盐中的主量成分   总被引:3,自引:3,他引:0       下载免费PDF全文
李可及 《岩矿测试》2016,35(3):290-294
以XRF分析岩盐,需解决标准物质缺乏和Cl在分析过程中的损失问题,选择合适的前处理方法以保证结果重现性。经实验发现用于粉末压片法的人工标准物质中氯化钠、硫酸钙等组分经X射线照射后呈现向样片表面扩散的趋势,其中氯化钠进一步分解,难以建立稳定的工作曲线;熔融制样则不存在这一问题,具备定量基础。本文选择熔融制样作为前处理方法,将光谱纯盐类、氧化物与土壤、水系沉积物国家标准物质以不同比例混合,配制人工标准物质建立工作曲线。熔融制样条件为:取样量0.6000 g,四硼酸锂+偏硼酸锂(12:22)混合熔剂10.000 g,熔融温度1000℃,预熔时间300 s,熔样时间300 s,静置时间30 s,所得样片平整通透,因样品中所含Cl具有脱模效果无需补充脱模剂。本方法测定主量元素的精密度(RSD)均小于1.5%,与经典方法相比减少了分析时间与试剂消耗,可作为岩盐主量成分分析的备选方法。  相似文献   

16.
徐婷婷  夏宁  张波 《岩矿测试》2008,27(1):74-76
采用混合熔剂熔融制备样片,用Axios X射线荧光光谱仪测定海洋沉积物样品中SiO2、Al2O3、Fe2O3、MgO、CaO、Na2O、K2O、P2O5、TiO2、MnO、BaO、Ni、Cu、V、Cr和Zn等16种组分,用理论α系数校正基体效应,分析方法的精密度(RSD,n=12)为Cu和Cr小于6%,其余大多数主次量组分小于2%。方法用海洋沉积物国家一级标准物质验证,测定值与标准值相符。  相似文献   

17.
使用基于Si-PIN探测器和嵌入式计算机的便携式高能量分辨率X荧光(XRF)分析仪,对采自刚果(金)的铜钴矿样品进行测量。通过对实测数据的处理与分析,分含量段建立目标元素的工作曲线,同时求出相应的基体效应校正模型,并编制到仪器内置X荧光分析应用软件中。实现仪器根据实测多道微分谱线中相关元素的特征X射线计数率,自动切换工作曲线与基体效应修正模型,快速输出Cu和Co的含量的测定结果。通过与化学分析结果比较,快速测定结果精确度较高。  相似文献   

18.
利用常规宝石学测试、X射线荧光光谱仪(XRF)、激光诱导离解光谱仪(LIBS)、电子探针(EPMA)对近来在珠宝市场上的铅玻璃充填碧玺样品进行测试与分析,旨在探讨其鉴定特征。结果表明,该铅玻璃充填样品的充填特征不明显,与传统的有机物充填处理方法不同;X射线荧光光谱和激光诱导离解光谱的测试结果显示,该铅玻璃充填碧玺样品具有明显的Pb峰。铅玻璃充填碧玺样品中充填物的电子探针二次电子像及背散射电子像特征,可作为碧玺样品是否经过了铅玻璃充填的诊断性依据,其充填物的化学成分主要为Si和Pb,呈不规则斑块状分布于裂隙中。  相似文献   

19.
应用轻便X射线荧光仪和X射线荧光测井仪,在我国某锑矿上进行了试验.对锑矿粉末样品、锑的化探样品、原始产状锑矿X射线取样、块状岩心及充满泥浆的锑矿钻孔进行了分析测量,并与化学分析比较,结果十分一致.特别是在消除基体效应方面取得了良好的效果. 放射性同位素X射线荧光技术在地质勘探工作中应用的特点是:仪器轻便,射线防护简单,操作容易,便于现场使用,测量速度快,对样品中元素含量能进行定量或半定量测定.在普查找矿阶段,可用来对某些地质远景地段进行及时检查,从而加速岩体评价.在化探工作中,可对中等强度以上的化探分散晕异常地段和水系底部沉积物的淘洗重矿物进行半定量或定量测量,  相似文献   

20.
熔融制片-X射线荧光光谱法测定磷矿石中主次量组分   总被引:10,自引:5,他引:5  
采用四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂熔融制备样片,用Axios型X射线荧光光谱仪测定磷矿石样品中五氧化二磷、氟、二氧化硅、三氧化二铝、总三氧化二铁、氧化镁、氧化钙、氧化钠、氧化钾、二氧化钛、氧化锰、氧化锶和硫等13种组分。重点试验了熔样比、熔样温度和标样制备。用基本参数法校正基体效应,分析方法的精密度(RSD,n=10)除二氧化钛、氟和硫分别小于10.8%、6.0%及10.2%外,其余各组分均小于4.5%。用磷矿石国家一级标准物质验证,结果与标准值相符。  相似文献   

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