排序方式: 共有74条查询结果,搜索用时 531 毫秒
31.
32.
欧美地下水有机污染调查评价进展 总被引:5,自引:0,他引:5
1999年中国地质调查局启动了第一个地下水有机污染调查项目,当时检测指标只有20个(包括11个挥发性有机污染物、8种有机氯农药和1种多环芳烃)。“十一五”的地下水有机污染调查必测项目包含了38项(挥发性指标28项、有机氯农药9项和1种多环芳烃),取得了地下水有机污染的基本资料。但从对国外文献的调研来看,地下水中有机污染的种类远远超过38种。为了更全面地掌握中国地下水的质量,有必要对不同地区或不同类型的地下水中典型的有机污染物的种类进行研究,为后续地下水有机污染调查的增项做准备。通过检索美国环保局(USEPA)、美国地质调查局(USGS)和欧盟(EU)近年来的地下水质量年度报告和相关文献,调研了地下水中典型有机污染物的类型,选出最常检出的有机污染物,形成最常检出的有机污染物的检出率排序表,列出了检出率高的前50个污染物的名单。 相似文献
33.
X射线荧光光谱用人工标准物质的研制 总被引:4,自引:3,他引:1
使用高纯物质人工合成的方法,成功研制了4个人工标准物质。该系列标准物质涵盖了钛、钒、锰、铬、钴、镍、铜、锌、砷、铅、铋、铷、锶、钇、锆、铌、钼、钨、钕、钽、铪、镱、锡、钡、铯、镓、锗、镧、铈等29个元素,不同分析元素的含量范围可扩大到0.00x%~8%。该系列标准物质不仅可以补充自然标准的不足,扩展校准曲线含量范围,而且能够修正干扰系数,解决了准确计算分析元素之间的干扰和仪器校正带来的实际困难。用4个人工标准物质取代单元素人工标准的配制方法,减少标准数量,节约了资源以及标准配制的时间,避免了X射线荧光光谱分析工作者的重复劳动,提高了工作效率。研制的4个标准物质经检验均匀性和稳定性良好,量值准确可靠,已被国家质量监督检验检疫总局批准为国家一级标准物质。 相似文献
34.
地质调查中有机物分析方法研究及应用 总被引:13,自引:2,他引:11
有机分析是近年地质调查工作中新开展的分析测试技术。随着地质调查工作重点由“资源”转为“资源与环境”并重, 有机分析测试技术成为环境地质调查工作的重要技术支撑。从2003年起, 在地质大调查项目的持续支持下和2005年启动的“全国地下水水质调查和污染评价”专项的促进下, 国家地质实验测试中心基于多年的研究基础和实际应用效果, 利用新技术建立的“多目标地质调查中主要有机物分析方法”和“地下水调查中37种必测有机组分的系统分析方法”在行业内迅速推广和应用, 培养了一支地质调查有机分析测试骨干队伍, 全面承担多目标地质调查、“全国地下水水质调查和污染评价”等大批量检测任务, 迄今为止已完成多目标地质调查和全国地下水调查样品测试几万组, 及时保证了地质调查项目的正常实施。2008年项目组还参与汶川水质、三聚氰胺牛奶等国家应急标准《水质、组胺等五种生物胺的测定——高效液相色谱法》(GB/T 21970-2008)、《原料乳中三聚氰胺快速检测——液相色谱法》(GB/T 22400-2008)的起草和方法验证工作, 产生了较好的社会影响。有机分析测试技术不仅在地质调查主战场充分发挥了技术支撑作用, 也在国家层面上展示了国土资源行业在社会公益事业中的作用。 相似文献
35.
36.
地质调查通用标准物质及标准方法信息系统 总被引:1,自引:0,他引:1
根据各地质实验室的特点和质量管理规范需求,结合实验室认可及检测实验室能力的需要,建立了地质调查通用标准物质和标准方法信息系统。该系统不仅能提供地质调查通用标准物质、标准方法的基本信息,还增加了与能力分析相关的检测参数信息,并实现了标准信息网上查询和维护管理。该系统适用于地质调查实验室的质量管理系统。 相似文献
37.
X射线荧光光谱法测定土壤样品中氯的不确定度评定 总被引:11,自引:7,他引:11
用实例对x射线荧光光谱法测定土壤样品中氯的不确定度进行了评定。测量结果的不确定度由仪器综合稳定性、制样、标准物质、回归工作曲线、重复测量等所引入的不确定度分量组成。在对各个不确定度分量进行量化的基础上,通过合成得到测量结果的标准不确定度,再乘以95%置信概率下的扩展因子2,得到测量结果的扩展不确定度。 相似文献
38.
对中国实验室国家认可委员会(CNAL)编号为CNAL T0242的砂质土壤中Cu、Pb、Zn、Mo、V五组分测试结果进行统计,采用稳健统计法,根据z比分数评判各实验室的测试结果。通过对CNAL T0242能力验证结果分析,客观反映参加实验室的测试能力和测试水平。 相似文献
39.
提出了一种基于等效时间采样方法的冲击型探地雷达回波信号高速采样系统,设计实现了等效时间采样的关键电路,包括步进采样脉冲发生器、采样门电路。实验证明了使用该方法采样回波信号的有效性。 相似文献
40.
基于长偏移距瞬变电磁法一维正演研究,计算层参数和偏移距变化时的模型响应,对比分析视电阻率曲线变化规律和分辨系数。结果表明,对低阻目标层的分辨能力主要由纵向电导所决定,纵向电导越大越易分辨,低阻目标层纵向电导与覆盖层纵向电导比值越高,越易对低阻层分辨;在高阻层厚/覆盖层厚(V2)1时,对高阻层的分辨能力随厚度的增大而提高,而电阻率在一定范围内变化对其几乎无影响,在V21时,视电阻率曲线在一定范围内存在T等值原理。该方法对低阻层的分辨能力要远大于高阻层,偏移距的变化对分辨能力影响甚微。 相似文献