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71.
偏岭石及其有关的变高岭石过去用五般鉴定结晶矿物的X射线衍射分析定为“非晶质”矿物;后来刘长龄用X射线衍射分析末照相高功率长时间拍照,见到有中,低强度的衍射条4.4-4.1,等多条;4.4A及2.2A等,二者有区别射线衍射仪强度曲线分析也有不同,而均属于准晶质或半晶质。  相似文献   
72.
伍岳  林玉飞 《铀矿地质》1996,12(1):41-47
本文从X射线的性质,以及X射线与物质作用的机理出发,对井液效应进行了研究,并对其影响过程进行模拟。在理想井液模型上,推导出X射线活度与钻孔参数的数理关系。在此基础上,进一步研究得到了能适应野外多变情况的井液效应校正公式(CBWE)和方法。  相似文献   
73.
双沟蛇绿岩中地幔交代作用的质子微探针研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
陈友红  张旗 《岩矿测试》1996,15(3):168-172
采用空间分辨率高和高灵敏度的质子微探针和微束PIXE技术,测定地幔流体结晶后各组成矿物的微量元素组成及其在不同矿物内的分布状况。对云南双沟蛇绿岩中存在的地幔交代作用进行的研究结果表明,由地幔流体结晶而成的矿物(单斜辉石、尖晶石、石榴石、绿泥石),其微量元素组成与分布特征受地幔交代作用过程的控制。这对于进一步探讨双沟地幔交代作用过程中微量元素的地球化学行为很有意义  相似文献   
74.
D/max-A型X射线衍射仪升级改造项目采用工业控制机原理,设计了与IBM兼容计算机相配的通用接口和相应的软件,实现了在日本理学D/max-A型X射线衍射仪上用IBM-PC机取代原单片机和操作台的升级改造。由此建立的JA型X射线衍射仪微机控制系统对测角仪转角控制精密、准确、可靠,数据采集实时、准确。它不仅保留了原系统的所有功能,保持了仪器原有的精度和分辨率,而且还增加了自动光路零位校正功能,由于采  相似文献   
75.
首次报导X射线粉末衍射法测量铁粉晶胞的磁致伸缩系数。还原铁粉样品原位磁化后 ,铁立方晶胞产生磁致伸缩效应 ,晶胞参数的变化引起衍射峰位置和晶面间距的变化。实验测得铁晶胞λ1 0 0 为 3 .3 3× 10 - 4,此结果表明铁晶胞的微观磁致伸缩系数比棒状、薄膜或粉末压片的系数大约 16倍。对此现象进行了合理的理论解释 ,指出大块材料中的粉末多晶之间具有较大的空隙 ,从而使得宏观磁致伸缩系数变小  相似文献   
76.
罗立强 《岩矿测试》2004,23(4):285-286
介绍了2004欧洲X射线光谱分析会议的简况和会议所讨论的热点问题。利用聚合毛细管X射线透镜进行微区分析是近期X射线领域最受关注的热点。  相似文献   
77.
能量色散X射线荧光光谱法测定卤水中痕量溴铷砷   总被引:3,自引:4,他引:3  
用模拟卤水建立了能量色散X射线荧光光谱法测定卤水中溴、铷、砷痕量元素含量的方法.实验表明,方法可以直接取样测定,适用于大批量样品的测试分析.方法的精密度RSD(n=15)小于1%,加标回收率为86.8%~101.6%.卤水中溴、铷、砷的测定结果与比色法、原子吸收和原子荧光法结果相符.  相似文献   
78.
用X射线荧光光谱测定钨砂中WO3和铬铁矿中Cr2O3,通过高倍稀释熔融玻璃片制样法,采用高纯WO3或Cr2O3作单一标准样测量X射线荧光强度计数,然后同未知样品测量所得X射线荧光强度计数相比,即可计算出WO3和Cr2O3的测量值.方法用于钨砂矿和铬铁矿中WO3和Cr2O3的测定,结果与标准值相符.  相似文献   
79.
北京市春夏季大气气溶胶的单颗粒分析表征   总被引:9,自引:0,他引:9  
采集了北京市2000年春夏季大气气溶胶样品5个,采用扫描电镜X射线能谱技术分析大气气溶胶单颗粒约2500个。研究结果表明,沙尘期间,矿物尘是最主要的颗粒物种类,非沙尘期间,北京市大气气溶胶中主要检出矿物尘和含硫颗粒物。夏季随着颗粒物污染的加重,含硫颗粒物的数目百分数增加。是北京市大气颗粒物污染的重要特征。重点讨论了Ca-S颗粒、K-S颗粒和Ca-K-S颗粒三类典型含硫颗粒物的化学组成和粒径分布特征。数目可观的Ca-K-S颗粒以及其他硫酸盐颗粒的生成与相对湿度和云量等气象条件相关,这些颗粒物可能是云中过程的产物。减少SO2排放,减少含硫颗粒物,对于控制北京市的大气颗粒物浓度水平具有重要意义。  相似文献   
80.
偏振激发能量色散X射线荧光光谱(P-EDXRF)技术是20世纪末出现的新分析技术。国内采用X-Lab2000型仪器的初步研究表明,在总计数时间为600秒时,可以对近30种元素进行定量,检出限为0.5-30μg/g,与国际上发表的文献值基本一致。本工作通过约100个实际样品分析,并与波长色散X射线荧光法(WDXRF)分析结果的比较,对P-EDXRF的分析性能进行了评价。与WDXRF相比,P-EDXRF法具有分析速度快、设备购置费用低、运行成本低、全谱同时采集(有利于发现元素含量异常)等优点,因此特别适合地球化学填图样品的快速分析。而WDXRF在精度要求较高的分析中更具竞争力。  相似文献   
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