钒的Kβ谱带精细结构的测定及钒的价态分析   总被引：3，自引：2，他引：1  

孙伟莹  谭秉和 《岩矿测试》1998,17(2):107-111

用普通Ｘ射线荧光光谱仪测定了钒的氧化物、钒酸盐及含钒混合物中Ｖ的Ｋβ谱线,借助一套有效的谱处理程序,获得了有关Ｋβ谱线精细结构的谱峰参数,证实了谱线轮廓（Ｋβ″峰逐渐显著,Ｋβ５、Ｋβ″向高能端位移,Ｋβ５与Ｋβ１,３的分开趋势,Ｋβ１,３半峰宽发生变化）及谱峰参数（Ｋβ５峰能量,Ｋβ５与Ｋβ１,３能量差,Ｋβ５与Ｋβ１,３及Ｋβ″与Ｋβ１,３的强度比,以及Ｋβ５和Ｋβ１,３的不对称因子）与Ｖ的氧化数变化呈很强的相关性及规律性变化。  相似文献   

X射线荧光光谱法测定钒的原子价平均值   总被引：2，自引：1，他引：1  

孙伟莹  谭秉和 《岩矿测试》1998,17(3):193-196

用Ｘ射线荧光光谱法测定了一系列钒的氧化物混合物中Ｖ的Ｋβ谱线的精细结构,研究了钒的氧化物中Ｋβ谱峰参数随混合物平均原子价变化的规律,并利用所作的定标曲线对一些实际样品,如钒渣、磁铁矿中钒的平均原子价进行了定量测定。  相似文献   

X射线荧光光谱法对钒氧化物中不同价态钒的定量分析   总被引：2，自引：0，他引：2  

谭秉和  孙伟莹 《岩矿测试》2000,19(4):245-248

讨论了用普通的Ｘ射线荧光光谱仪,采用谱峰分解法和谱峰合成法对钒氧化物的混合物中氧化态Ｖ２Ｏ３、Ｖ２Ｏ４、Ｖ２Ｏ５的定量分析。谱峰分解法以每种钒氧化态的标准谱形函数为基础,用最小二乘法求解,而谱峰合成法则是以每种纯氧化态的测量谱线为基础,用定标技术求解,用上述法测定钒氧化物产品,其结果与化学法、电化学法的结果一致,最大相对误差为７．７％。  相似文献