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根据TAI型库尔特计数器单管粒度分析结果,利用灰色系统建立GM(1,1)预测模型,对样品频率曲线进行外推处理,可获得小于仪器基线通道阈值颗粒的体积百分比含量,并将结果与入重-出重法测定结果进行对比,精度较高。为电敏感区法粒度分析资料的外推处理提供了新的方法。 相似文献
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