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基于薄层的反射系数谱理论与模型正演 总被引：1，自引：0，他引：1
一般的反射系数计算都是以单个界面为基础为进行的，而陆相地层主要以薄（互）层为主，这是一个矛盾。该文在推导出任意入射角入射条件下的多个薄层纵、横波反射系数谱理论基础上，进一步简化出了单个薄层垂直入射时的纵波反射系数谱计算公式，从而获得了在薄层条件不同频率成分的纵波反射系数谱数学关系式。由此进一步形成了面向背景的纵波反射模型正演方法。通过采用实际地震子波为输入子波，对单个楔状体薄层、薄互层组楔状体地质模型进行了纵波合成记录制作。分析表明，其实用性强。不仅提供了一种基于新方法的合成模拟手段，更为横向谱比的物理意义分析提供了手段。 相似文献
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薄储层厚度计算新方法探索 总被引：6，自引：0，他引：6
薄储层厚度的计算已有不少成熟的方法，如振幅法等。然而，仍存在不少的问题。例如，对于薄储层厚度的计算一般都主张采用振幅方法，但是，如果该薄储层的某一范围由于物性或岩性的变化（如含有油气等），则将引起振幅的显著变化，此时使用振幅去计算薄层厚度无疑会出现错误的结果。作者通过研究地层厚度变化对地层本身的反射系数谱及反射波频谱的影响规律，寻找到了一种新的计算薄层厚度的方法。模型试算表明，效果理想。 相似文献
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