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1.
对利用铜试金预富集后辉光放电质谱法(GDMS)测定贵金属矿样中痕量Pt、Pd、Ir、Au的方法进行了探索性研究。着重考察了铜试金条件的选择和辉光放电电极的匹配、质谱的测定条件和测定方法等。分析结果表明,痕量(μg级)贵金属元素Pt的含量在1.99~15.0μg,回收率为92.0%~111.9%;Pd的含量在3.15~29.78μg,回收率为88.4%~113.3%;Ir的含量在0.12~0.60μg,回收率为68.3%~100.0%;Au的含量在10.43~24.08μg,回收率为98.9%~127.0%。方法可应用于矿石、矿物及其他物料中痕量贵金属的分析。  相似文献   
2.
贵金属材料分析   总被引:13,自引:2,他引:11  
董守安 《岩矿测试》2000,19(1):20-31
论述了贵金属材料分析的重要性和特殊性,指出应根据材料的类型和对分析的要点,优先考虑解决如测定贵金属元素的准确度、选择性或方法的灵敏等问题。评述了自1992年以来国内贵金属材料分析的发展,内容包括高含量、低含量和高纯贵金属材料的分析。涉及的分析技术主要有滴定法、精密库仑滴定法、等离子体-发射光谱法、原子吸收光谱法和光度法等。  相似文献   
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