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对于贵金属饰品无损定量分析而言,目前尚无一种较理想的方法,每一种方法都有盲区,本方法是以密度法为主,X射线荧光法为辅,对贵金属(金、银、铂、钯)首饰成分无损检测的综合分析方法。既能解决荧光法只能测定样品表层成分,而其结果受样品形状及不均匀度等影响的问题,  相似文献   
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