|
|||||
|
|
| 高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制 | |
| 引用本文： | 张天佑,李国会.高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制[J].岩矿测试,1998,17(1):68-74. |
| 作者姓名： | 张天佑 李国会 |
| 作者单位： | 地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组 |
| 基金项目： | 地矿部八五重点地质科技项目 |
| 摘 要： | 报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证，与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明，该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ），测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级，对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好，水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。 |
| 关 键 词： | 全反射X射线荧光光谱仪 仪器研制 |
| 修稿时间： | 1997_06_18 |
Development of High Sensitive Total Reflection X Ray Fluorescence Spectrometer |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | total reflection X_ray fluorescence spectrometer instrument development |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |
| 点击此处可从《岩矿测试》浏览原始摘要信息 | |
| 点击此处可从《岩矿测试》下载免费的PDF全文 | |