共查询到20条相似文献，搜索用时 15 毫秒
1.
新型X射线荧光测井仪及其应用 总被引：1，自引：0，他引：1
论述了新型Ｘ射线荧光测井仪的特点和克服井壁凹凸不平，井液影响，基体液应有方法技术以及用Ｘ射线法荧光测井方法计算品位和线储量，仪器和方法在矿区的应用，得到了满意的结果。 相似文献
2.
3.
海底X射线荧光探测系统的软件研制 总被引：2，自引：2，他引：0
基于Windows98操作平台,结合软件工程的设计原则和面向对象的程序设计方法,用Visual Basic 6.0开发了海底X射线荧光探测系统软件（EDXRF^MS)。该软件能完成数据处理及运算,主要解决谱数据的采集与测量控制、成图和图形处理、X射线荧光谱分析、干扰因素的校正、仪器标定与含量计算等问题。EDXRF^MS软件与海底X射线荧光探测系统的硬件配合,能够进行海上现场多道数据的实时采集,对于海底矿产资源的开发具有一定的实用价值。 相似文献
4.
用X射线荧光光谱法测定试样的主要成分时,主要是用数学校正法来校正基体成分对分析结果的影响,然而用数学校正法来分析试样中的低、微量元素是很困难的.分析试样中的低、微量元素,多数作者是采用散射内标法或加人内标法来校正基体效应.用散射内标法测定试样中的低、微量元素时,背景强度的变化往往影响分析结果的精确度,特别是分析元素靠近检出限时,分析元素能否检出以及测定结果的精确度如何,主要取决于背景强度的大小及背景测定的精确度. 相似文献
5.
为使我国煤田测井实现定量化,在江西省煤田地质勘探公司领导下,我所开展了煤田测井密度定量技术方法的研究。主要内容为:研制一种适合煤田特点的测井密度模块,对仪器进行密度刻度;建立起散射伽玛强度与地层密度之间量的关系;使用现场刻度器来排除仪器因素的影响;利用模块作出校正图板,进行井径和井液因素校正;通过定量分析程序计算地层密度等等。现将我们的研究成果介绍于下。 相似文献
6.
7.
X射线荧光光谱三十年 总被引：16，自引：8，他引：8
X射线荧光光谱分析在20世纪80年代初已是一种成熟的分析方法,是实验室、现场分析主、次量和痕量元素的首选方法之一,在无损分析和原位分析中具有不可替代的地位。文章评述了三十年来X射线荧光光谱分析的进展历程、波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和现场与原位分析用X射线荧光光谱仪发展过程及显示的特色。介绍了在X射线的全反射和偏振性质基础上相继推出的偏振、微束、全反射等全新的X射线荧光光谱仪及其在众多领域的应用。回顾了基体校正发展历程和以Sherman方程为基础的基本参数法和理论影系数法在定量分析中的应用,并对学术界有关基体校正的物理意义的争论、Sherman方程的局限性以及如何提高基本参数法在常规定量分析和半定量分析结果的准确度的途径进行了探讨。总结了化学计量学与数据处理方法在XRF中的应用研究及进展,指出人工神经网络方法与基本参数法相结合的算法,对于改善基体校正的准确度和稳定性开创了一条新的途径。 相似文献
8.
本文从Ｘ射线的性质，以及Ｘ射线与物质作用的机理出发，对井液效应进行了研究，并对其影响过程进行模拟。在理想井液模型上，推导出Ｘ射线活度与钻孔参数的数理关系。在此基础上，进一步研究得到了能适应野外多变情况的井液效应校正公式（ＣＢＷＥ）和方法。 相似文献
9.
XRF法快速测定铁钛精矿中的Fe、Ti品位 总被引：2，自引：0，他引：2
介绍了XRF法(X射线荧光)在快速测定铁钛精矿样中Fe、Ti品位中的应用,用IED2000P型快速X荧光分析仪,分析目标元素特征X射线计数率与含量的关系,主要研究了基体效应对测量结果的影响。通过比较,选用特散比与经验系数法相结合做三元回归计算的数理模型,可较好地校正基体效应,其分析结果相对误差在0.2%以内,达到了实际生产的要求。 相似文献
10.
文章介绍了一种新型Ｘ射线荧光测井仪的硬件与软件。该测井仪井下探管外径４２ｍｍ，以充稀有气体的正比计数器为探测器，以８０９８微机芯片管理的２５６道脉冲幅度分析系统，可以一次下井同时测定两种或多种元素含量，实现了在地面计算机控制下的数字传输数字收录和数据处理。开发的软件具有原始数据采集、能谱分析、含量与储量计算等功能。野外锶矿测井试验表明：Ｘ射线荧光测井仪可在井场实时提供锶、钡两种元素的品位，其耗费的 相似文献
11.
12.
水平井和大斜度井中阵列侧向测井响应数值模拟 总被引：1，自引：0，他引：1
针对水平井和大斜度井中阵列侧向电极系的工作原理,利用多电场叠加方式进行电场合成,采用三维有限元方法模拟仿真各个分电场的场分布,进而利用电场线性叠加原理得到阵列侧向测井响应。在基于计算机仿真的基础上,得到阵列侧向五条测井曲线的径向探测深度,阵列侧向径向探测深度要小于深侧向探测深度。考察了三维地层模型下井斜和侵入深度变化对阵列侧向测井响应的影响,分析了水平井和大斜度井中阵列侧向测井响应特征。模拟结果表明,在井斜小于15°时,阵列侧向测井响应受井斜影响小,可以不进行井斜校正;井斜超过60°的大斜度井以及水平井中,阵列侧向测井响应视地层厚度逐渐增大,测井响应值与直井条件下响应值差别较大,必须进行井斜校正。 相似文献
13.
本文从携带式X射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论述了现场X射线荧光分析技术的进展.从X射线激发源、X射线探测器和电子线路单元等角度,将携带式X射线荧光仪划分为四代,即以放射性同位源为激发源、以NaI(Tl)闪烁计数器为X射线探测器为技术特征的第一代仪器;以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器;以放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器;以低功率微型X射线发生器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化X射线能谱采集器为技术特征的第四代仪器.在现场分析技术方法方面,论述了X射线仪器谱解析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技术进展.介绍了现场X射线荧光分析技术在地质矿产普查、环境污染调查、文物现场鉴定和合金分析等领域的应用进展.指出了目前国产携带式X射线荧光仪处于第三代和第四代仪器水平之间,低功率微型X射线发生器和电制冷半导体探测器还依赖于进口,全数字X射线能谱采集器还有待商品化;现场多元素分析的准确度和方法检出限都有待进一步改善;便携式仪器的应用领域有待拓宽. 相似文献
14.
15.
16.
17.
X射线荧光光谱法同时测定白云岩中氧化钙和氧化镁等主次量组分 总被引：5，自引：3，他引：2
针对白云岩主次量组分同时测定中存在的问题,采用熔融玻璃片和粉末压片法制样(运用熔片-压片法相结合),选用有关的国家一级标准物质和省二级标准物质,以经验α系数法和散射线内标法校正元素谱线重叠干扰和基体效应,采用X射线荧光光谱法对白云岩样品中的氧化钙、氧化镁、氧化铝、二氧化硅、磷、氧化锰、全三氧化二铁和硫8个组分进行测定,分析结果与标准值或化学值吻合,各组分12次重复测定的相对标准偏差小于10%。方法操作简便、快捷。 相似文献
18.
19.
20.
序 和荧光分析一样,在X—射线衍射定量分析中,基体(matrix)效应也是产生较大误差的原因。曾经提出各种不同的校正方法,如: ——外标法; ——内标法。没有一种方法是完全令人满意的。的确,外标法的应用意味着对样品的化学组份事先已了解。而内标法的应用则意味着样品制备更为复杂,为了验证样品的每一个衍射峰都不与内标物质的衍射峰相干扰,事先要进行衍射研究。 相似文献