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X射线荧光光谱分析中不同价态硫对测定硫的影响及地质试样中全硫… 总被引：2，自引：3，他引：2
研究工作表明在粉末压片试样中，由于不同价态的硫所发射的Ｘ射线谱发生位移，Ｋａ／ｋβ谱线强度比不一致；以及粉末压片－ＸＰＥ测定硫的结果随保存时间的增长发生变化，导致了分析地质试样中全硫时的测定误差，提出采用熔融粉末压片法制样，试样中硫全面部转为在硫酸盐硫，克服了谱线位移和试样不稳定问题，提高了全硫分析结果的准确性。 相似文献
186.
地质样品中砷、镓、钴、镍、溴、氯、硫和氟的X射线荧光光谱法测定 总被引：4，自引：0，他引：4
本文叙述了XRF测定地质样品中微量As,Ga,Co,Ni,Br,Cl,S和F的分析方法。采用压片法制样。对As,Ga,Co,Ni和Br元素,用散射内标法校正基体效应,而对Cl,S和F元素则用经验系数法进行基体校正。各元素的探测限(ppm)分别为:As 2.7,Ga 2.4,Co 2.8,Ni 2.5,Br 1.0,Cl,S 5.0,F 500。方法的精密度和准确度与其它化学方法相当,是一种简便快速和较灵敏的分析方法。 相似文献
187.
188.
X射线荧光技术用于西秦岭地区金矿勘查 总被引：1，自引：0，他引：1
本文根据用轻便型X射线荧光仪在西秦岭数个金异常区测量金的伴生元素——砷的荧光强度,间接找寻金矿的实践,阐明用该仪器可快速圈定金矿远景区和揭示隐伏金矿体,提高找矿效果。并对使用X射线荧光技术进行现场测量及配合金异常查证工作,作了初步探讨。 相似文献
189.
本文介绍了X射线荧光光谱领域内谱图解析的几种主要方法。在阐述曲线拟合解谱基本原理的基础上,对其中特殊的基于泊松分尔(Poisson Distribution)的解谱方法的原理和特点进行了较详尽的描述。重点讨论了网格法最优化方法和统计试验最优化方法。这二种求全局极值的最优化方法。 相似文献
190.
X射线荧光光谱测定矿样中主元素及微量元素 总被引：1，自引：0，他引：1
X射线荧光光谱是一种多元素分析的有效方法。通常对粉末样品(180目以上),可以直接压片成型进行分析测量。为提高地球化学样品中主元素的准确度,更有效地消除矿样的颗粒效应,在制样前用理学盘式振动磨研磨二分钟,然后压片成型。各元素的基体影响可采用经验系数法,利用理学DATAFLEX-151B计算机软件进行元素间的基体效应校正,选择最佳测试条件,在日本理学3080E3型全自动X射线荧光仪上测定SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、CaOMgO、K_2O、Na_2O、V、Cu、Cr、Ni、Sr等24元素。方法具有简单、快速、成本低和效率高等优点,并有较好的准确度和精密度。 相似文献