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X射线能地测定土壤中7种主次量元素 总被引：3，自引：0，他引：3
采用粉末样品压片制样,土壤标准物质以及人工合成标样为标准,用Ｘ射线荧光能谱仪对土壤试样中的Ｓｉ、Ｋ、ｃａ、Ｔｉ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｓｒ７种、次量元素进行测定。讨论了基体疚及校正等问题。方法经土壤标样分析验证,其结果与标准值符合较好,方法的精密度《３％ 相似文献
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采用粉末样品压片制样,土壤标准物质以及人工合成标样为标准,用Ｘ 射线荧光能谱仪对土壤试样中的Ｓｉ、Ｋ、Ｃａ 、Ｔｉ、Ｍｎ 、Ｆｅ 和Ｓｒ ７ 种主、次量元素进行测定。讨论了基体效应及校正等问题。方法经土壤标样分析验证,其结果与标准值符合较好,方法的精密度（ ＲＳＤ,ｎ ＝ ５） ＜ ３ ％ 。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定海洋沉积物中35种元素 总被引：19，自引：1，他引：19
采用混合熔剂熔融和粉末压片法制样，使用理论α系数和攻射线内标法校正元素间的吸收一增效应，用３０８０Ｅ２型Ｘ射线荧光光谱仪对试样中的３５种元素进行测定，其分析结果的精密度和准确度可与化学法相媲美。 相似文献
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为建立符合安徽月山矿区的X荧光光谱(XRF)分析方法,针对矿区铁矿、铜矿的特点,用铁、铜矿石的国家标准物质制作系列校准样片,通过粉末压片和玻璃熔融两种制样方法,波长色散X荧光光谱法测定主矿体样品中的Fe、Cu等主量元素,并将测定结果与传统化学方法分析结果进行比较。结果显示,熔片法-XRF的测定结果与化学容量法测定结果一致,试样在850℃灼烧,按40∶1大稀释比熔融制样,解决了样品在高温熔融过程中对铂黄坩埚的腐蚀,适用于月山矿区铁铜矿样品中Fe、Cu的测定。粉末压片法不能克服矿物效应和粒度效应的影响,测定结果与化学容量法结果比对偏差较大,不适用于月山地区铁铜矿中Fe、Cu的测定。 相似文献
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便携式X射线荧光光谱仪(PXRF)因具有快速、无损检测元素含量的能力,通常被用于野外或实验室地质样品的元素含量检测工作中,对于大多数地质样品,在2 min内就能够获得几十种元素的半定量-定量分析结果。但在实际应用中,被测样品的表面平整度、样品中物质的均一性和施测时间等因素都会影响元素分析结果。为了进一步了解样品类型和分析测试方法等因素对元素分析的具体影响,本文对比了PXRF与实验室分析结果、岩石和粉末样品PXRF分析结果、不同检测时间所得PXRF分析结果的关系,在不损失过多分析精度的前提下提出了通过PXRF降低勘查成本、提高工作效率的方案。结果表明:用PXRF直接分析岩石样品时,大多数元素的分析结果可靠性较差,尤其是成矿预测工作中常用的Cu、Pb、Zn、As和Ni等元素;粉末样品的PXRF分析结果与实验室分析结果具有较好的相关性,表明对岩石样品进行粉碎处理能够明显改善PXRF分析质量;元素种类不同,岩石和粉末样品PXRF测量结果的相关性也不同。因此,在实际工作中可以根据感兴趣的目标元素确定是否需要对岩石样品进行粉碎制样处理;检测时间对元素含量分析结果没有明显影响,对于特定元素,如果能够在较短时间内获得其含量信息,则无需增加检测时间。 相似文献
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建立了Ｘ射线荧光光谱（ＸＲＦＳ）分析中修正比例常数法的理论和分析方法，主要用来测定８￣２４Ｋ黄金首饰样品中的主、次元素含量。 相似文献
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拟定了粉末样品压饼Ｘ射线荧光光谱进行硅酸盐分析的方法，并考查了粒度的影响，将样品研磨至φ０．０６ｍｍ，可满足试验的要求。经地质标样分析及实际应用验证，方法可行。 相似文献
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推荐ＸＲＦ粉末法直接测定硅线选矿流程试样中铝、铁、钛、钾、钠。以不同矿区的选矿流程试样作为标准，试样研磨至所需粒度。用经验系数校正法克服矿物效应，颗粒度效应和共存元素间的影响，与化学分析法相比，本法快速，简便，成本低，测定结果满足选矿要求。 相似文献
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采用粉末直接压片,波长色散多道荧光光谱法快速测定含金石英石样品中SiO2、Al2O3、TFe2O3、CaO、MgO、Pb、Zn等7种成分。根据含金石英石中SiO2的含量范围,选取了与试样基体相匹配的含金石英生产样作为校准样品,采用化学法准确定值,确定了仪器的最佳分析参数。对于Si和Al轻元素,荧光强度随粒度变化较为显著;制作的校准样品应密封保存,粉末压片后需马上进行测试。方法操作简单,成本低,测定范围宽,灵敏度高,精密度(RSD,n=11)均小于2.5%。与化学法对照,结果符合较好。 相似文献
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高灵敏度的全反射X射线荧光光谱仪的研制 总被引：8，自引：2，他引：6
报道了由地矿部全反射Ｘ射线荧光光谱技术组研制的全反射Ｘ射线荧光（ＴＸＲＦ）分析仪。着重介绍了样机的全反射装置、分析特点、技术参数和应用验证,与国内外同类仪器主要技术指标进行对比表明,该样机主要技术指标基本上达到国际同类仪器水平。列出了２３个元素的检出限范围（００８～０９２ｎｇ）,测定Ｓｒ的线性动态范围在３个数量级,对地气样品的分析结果与原子吸收光谱法相符。方法精密度好,水样测定中各元素的ＲＳＤ（ｎ＝５）小于１０％。 相似文献
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酸分解试样，点滴麦勒膜制片，Ｎｉ元素作内标，使用Ｘ射线荧光光谱法同时测定金银标准样品中Ａｕ，Ａｇ，Ｃｕ和Ｚｎ，分析范围为０．２％－１００％。对于Ａｕ，Ａｇ，Ｃｕ和Ｚｎ含量为８３％，８．０％，６．２％，３．０％的试样，其ＲＳＤ（ｎ＝６）分别为０．１％、１．１％、０．９％和１．１％。 相似文献
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核地球物理X辐射取样中克服基体效应的研究 总被引：1，自引：0，他引：1
克服基体效应的影响是Ｘ辐射取样技术中的关键问题。应用谱线分解技术,对样品的复合谱线进行分解,求得各元素的净Ｘ射线荧光计数率,在此基础上建立了“特散比法与吸收元素校正法联合应用”的数理方程,进行基体效应的校正。应用此技术对人工配制的样品和两个铜矿区实际样品进行了测量。 相似文献
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X射线荧光光谱法测定土壤样品中碳氮硫氯等31种组分 总被引：3，自引：3，他引：3
利用新型的ZSX Primus Ⅱ型X射线荧光光谱仪采用粉末压片法直接测定土壤样品中的C、N、S、Cl等31种元素。各元素分析晶体为N采用RX45，C采用RX61，Na、Mg采用RX25，C1、S、P采用Ge，Si、Al采用PET，其余元素均采用LiF200。结果表明，方法的检出限、精密度和准确度对绝大多数元素而言，均可满足多目标地球化学调查样品分析的质量要求： 相似文献
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地质物料中铷铯铀钍锆铪等元素的直接测定方法 总被引：1，自引：0，他引：1
采用粉末压饼制样Ｘ荧光光谱法直接测定了地质物料中的微量Ｒｂ、Ｃｓ、Ｕ、Ｔｈ、ＺｒＨｆ、Ｎｂ、Ｂａ和Ｓｒ等元素。与其它方法相比，本方法具有制样方法简便，一次制样可以测定多种元素、成本较低等特点。试验结果表明，方法的准确度和精密度较好，各元素的检出限都能满足地质物料对测定的要求。 相似文献
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采用粉末压饼制样Ｘ荧光光谱法直接测定了地质物料中的微量Ｒｂ、Ｃｓ、Ｕ、Ｔｈ、Ｚｒ、Ｈｆ、Ｎｂ、Ｂａ和Ｓｒ等元素。与其它方法相比，本方法具有制样方法简便，一次制样可以测定多种元素、成本较低等特点。试验结果表明，方法的准确度和精密度较好，各元素的检出限都能满足地质物料对测定的要求。 相似文献